什(shen)么(me)是開關電源，它的測試(shi)方法你知道嗎?1、反復(fu)短路測試(shi)
測試說明
在輸入和輸出狀(zhuang)態下把模(mo)塊輸出短(duan)(duan)路(lu)，模(mo)塊應實現(xian)保護或回(hui)縮(suo)，反復多次短(duan)(duan)路(lu)，故(gu)障(zhang)排除后(hou)，模(mo)塊應該能自動恢復正(zheng)常運行。
測試方法：
a、空載到短路：在輸入電(dian)壓范圍(wei)內，將模塊(kuai)從空載到短路，模塊(kuai)應能正(zheng)常(chang)實現輸出限(xian)流(liu)或回縮，短路排除后，模塊(kuai)應能恢(hui)復(fu)正(zheng)常(chang)工(gong)作。讓模塊(kuai)反復(fu)從空載到短路不斷(duan)的工(gong)作，短路時(shi)(shi)間(jian)為(wei)1s，放開時(shi)(shi)間(jian)為(wei)1s，持(chi)續(xu)時(shi)(shi)間(jian)為(wei)2小(xiao)時(shi)(shi)。這以后，短路放開，判斷(duan)模塊(kuai)是(shi)否能夠正(zheng)常(chang)工(gong)作。
b、滿載到短(duan)路(lu)(lu)：在(zai)輸入電(dian)壓范(fan)圍內，將模(mo)(mo)塊從滿載到短(duan)路(lu)(lu)，模(mo)(mo)塊應能正(zheng)常(chang)實現輸出限流或回縮，短(duan)路(lu)(lu)排(pai)除后(hou)，模(mo)(mo)塊應能恢復正(zheng)常(chang)工作。讓模(mo)(mo)塊從滿載到短(duan)路(lu)(lu)然(ran)后(hou)保持短(duan)路(lu)(lu)狀態(tai)2小時。然(ran)后(hou)短(duan)路(lu)(lu)放開，判斷模(mo)(mo)塊是否能夠正(zheng)常(chang)工作。
c、短路(lu)(lu)開機(ji)：將模(mo)塊(kuai)的輸(shu)出先短路(lu)(lu)，再上市電，再模(mo)塊(kuai)的輸(shu)入電壓(ya)范圍內上電，模(mo)塊(kuai)應能(neng)實(shi)現正常(chang)的限流或回縮，短路(lu)(lu)故障排除后(hou)，模(mo)塊(kuai)應能(neng)恢復正常(chang)工作，重復上述試驗10次后(hou)，讓短路(lu)(lu)放開，判斷模(mo)塊(kuai)是否能(neng)夠正常(chang)工作。
判定：
上述試驗后，電(dian)(dian)源(yuan)模塊開機(ji)能正常工作;開機(ji)殼檢查，電(dian)(dian)路板及其他部(bu)分無(wu)異常現象(如輸入繼電(dian)(dian)器在短(duan)路的過程中觸電(dian)(dian)是否粘住(zhu)了等)，合(he)格(ge);否則(ze)不合(he)格(ge)。
2、反復開關機測試
測試說明：
電源模塊(kuai)輸(shu)(shu)(shu)出帶大負載(zai)情況下(xia)，輸(shu)(shu)(shu)入(ru)(ru)電壓分別為220v，(輸(shu)(shu)(shu)入(ru)(ru)過壓點-5v)和(輸(shu)(shu)(shu)入(ru)(ru)欠(qian)壓點+5v)條件下(xia)，輸(shu)(shu)(shu)入(ru)(ru)反(fan)復開關(guan)(guan)，測試電源模塊(kuai)反(fan)復開關(guan)(guan)機的能。
測試方法：
a、輸入電(dian)壓為220v，電(dian)源(yuan)模(mo)塊快(kuai)帶大負(fu)載，用(yong)接(jie)觸器電(dian)壓輸入，合15s，斷(duan)開5s(或者可以(yi)用(yong)ac source進行模(mo)擬)，連續運行2小時，電(dian)源(yuan)模(mo)塊應(ying)能正常工作;
b、輸(shu)入(ru)電(dian)壓為過壓點-5v，電(dian)源模(mo)塊帶大負載，用(yong)接觸器電(dian)壓輸(shu)入(ru)，合15s，斷(duan)開(kai)5s(或者可以用(yong)ac source進行模(mo)擬)，連續運行2小時，電(dian)源模(mo)塊應能正常工(gong)作;
c、輸入電壓為欠壓點-5v，電源(yuan)模(mo)塊(kuai)帶大負(fu)載，用接觸(chu)器(qi)電壓輸入，合15s，斷開5s(或者(zhe)可(ke)以用ac source進行(xing)模(mo)擬)，連續運行(xing)2小時，電源(yuan)模(mo)塊(kuai)應能正(zheng)常工作(zuo)。
判斷：
以上試(shi)驗(yan)中，電(dian)源模(mo)塊工作正(zheng)常，試(shi)驗(yan)后電(dian)源模(mo)塊能正(zheng)常工作，能無(wu)明顯變化，合(he)格;否則不合(he)格。
3、輸(shu)入低(di)壓點循(xun)環測試(shi)
測試說明：
次電(dian)(dian)源(yuan)模(mo)(mo)(mo)塊的(de)輸入(ru)欠(qian)壓(ya)點保護(hu)的(de)設置回差，往往發(fa)生(sheng)以(yi)下(xia)情況：輸入(ru)電(dian)(dian)壓(ya)較低，接近次電(dian)(dian)源(yuan)模(mo)(mo)(mo)塊欠(qian)壓(ya)點關斷(duan)(duan)，帶載時欠(qian)壓(ya)，斷(duan)(duan)后(hou)(hou)，由(you)于(yu)電(dian)(dian)源(yuan)內(nei)阻原因，負載卸掉后(hou)(hou)電(dian)(dian)壓(ya)將上升(sheng)，可能(neng)造成次電(dian)(dian)源(yuan)模(mo)(mo)(mo)塊處于(yu)在低壓(ya)時反復開發(fa)的(de)狀態。
測試方法：
電(dian)(dian)(dian)源(yuan)模塊帶滿(man)載運行，輸入電(dian)(dian)(dian)壓(ya)從(輸入欠壓(ya)點(dian)-3v)到(輸入欠壓(ya)點(dian)+3v)緩慢變化，時(shi)間(jian)設置為(wei)5～8分(fen)鐘，反復循環運行，電(dian)(dian)(dian)源(yuan)模塊應(ying)能正常(chang)穩定工作(zuo)，連續運行少0.5小(xiao)時(shi)，電(dian)(dian)(dian)源(yuan)模塊能無明顯(xian)變化。
判定：
次(ci)電源模塊正常連續運(yun)行，0.5小時后能無(wu)明顯變化，合格;否則不合格。
4、輸入瞬態壓測試
測試說明：
pfc電路(lu)(lu)采(cai)用平均值電路(lu)(lu)進(jin)行(xing)過欠壓保護，因此在輸(shu)入瞬態壓時，pfc電路(lu)(lu)可能會很快實現保護，從而(er)造成損壞，測(ce)試(shi)次(ci)電源模塊在瞬態情況(kuang)下的穩(wen)定運(yun)行(xing)能力以評估。
測試方法：
a、額定電壓(ya)輸(shu)入(ru)，用雙蹤示波器測試輸(shu)入(ru)電壓(ya)波形(xing)合過壓(ya)保(bao)護信號(hao)，輸(shu)入(ru)電壓(ya)從限功率點加5v跳變為300v，從示波器上讀出過壓(ya)保(bao)護前(qian)300v的(de)周期(qi)數n，作為以(yi)下試驗的(de)依據。
b、額定輸入電壓，電源模塊帶滿載(zai)運(yun)行(xing)，在輸入上疊(die)加300v的電壓跳變，疊(die)加的周期數為(n-1)，疊(die)加頻率為1次(ci)/30s，共運(yun)行(xing)3小時。
判定：
次(ci)電(dian)源模塊在上述(shu)條件下能夠穩定運(yun)行，不出現(xian)損壞(huai)或其他不正常現(xian)象，合格;否(fou)則不合格。
5、輸入電(dian)壓跌(die)落及輸出動態(tai)負(fu)載
測試說明：
次模(mo)塊(kuai)在實際使用(yong)過(guo)程中，當輸入電(dian)壓跌落(luo)時(shi)，電(dian)源模(mo)塊(kuai)突加負載的限(xian)，況是可能發生的，此時(shi)功率器件(jian)、磁(ci)元件(jian)工(gong)作(zuo)在大(da)瞬態(tai)電(dian)流狀態(tai)，試驗可以檢驗時(shi)序、限(xian)流保護等(deng)電(dian)路及軟件(jian)設計的合(he)理。
測試方法：
a、將輸入電壓(ya)調整(zheng)為(wei)(wei)在欠壓(ya)點(dian)(dian)+5v(持(chi)(chi)續(xu)時間(jian)(jian)為(wei)(wei)5s)、過(guo)壓(ya)點(dian)(dian)-5v(持(chi)(chi)續(xu)時間(jian)(jian)為(wei)(wei)5s)之間(jian)(jian)跳變，輸出調整(zheng)在大負載(zai)(大額定容量(liang)，持(chi)(chi)續(xu)時間(jian)(jian)為(wei)(wei)500ms)、空載(zai)(持(chi)(chi)續(xu)時間(jian)(jian)為(wei)(wei)500ms)之間(jian)(jian)跳變，運行1小時;
b、將輸(shu)入電壓調(diao)整為(wei)(wei)欠壓點+5v(持(chi)(chi)續時(shi)(shi)間(jian)為(wei)(wei)5s)、過壓點-5v(持(chi)(chi)續時(shi)(shi)間(jian)為(wei)(wei)5s)之間(jian)跳(tiao)(tiao)變，輸(shu)出調(diao)整在大負載(zai)(大額定(ding)容量，持(chi)(chi)續時(shi)(shi)間(jian)為(wei)(wei)1s)、空載(zai)(持(chi)(chi)續時(shi)(shi)間(jian)為(wei)(wei)500ms)之間(jian)跳(tiao)(tiao)變，運行1小時(shi)(shi)。
判定：
在上述條件下，應(ying)能(neng)穩定運行，不出現損(sun)壞或其(qi)他(ta)不正常現象，合格;否則不合格。若出現損(sun)壞情況(kuang)，記錄故障問題，以提供分析損(sun)壞原(yuan)因的依據。
6、壓(ya)空載，低(di)壓(ya)限流態運行試驗
測試說明：
壓(ya)空載(zai)運行是測試(shi)(shi)模(mo)塊的(de)損耗情況(kuang)，尤其是帶軟開關的(de)模(mo)塊，在(zai)空載(zai)情況(kuang)下，軟開關變為硬開關，模(mo)塊的(de)損耗相應增(zeng)大。低(di)(di)壓(ya)滿(man)載(zai)運行是測試(shi)(shi)模(mo)塊在(zai)大輸(shu)入電流時，模(mo)塊的(de)損耗情況(kuang)，通常狀態下，模(mo)塊在(zai)低(di)(di)壓(ya)輸(shu)入、滿(man)載(zai)輸(shu)出(chu)時，效率(lv)低(di)(di)，此時模(mo)塊的(de)發熱為嚴重。
測試方法：
a、將模塊(kuai)(kuai)的輸入電壓(ya)調整(zheng)為(wei)輸入過壓(ya)保護點-3v，模塊(kuai)(kuai)的輸出為(wei)低輸出電壓(ya)，空載運(yun)行，此時，模塊(kuai)(kuai)的占空比為(wei)小(xiao)，連續運(yun)行2小(xiao)時，模塊(kuai)(kuai)不(bu)應損壞;
b、將模(mo)塊的輸(shu)入(ru)電壓調整為欠(qian)壓點+3v，模(mo)塊的輸(shu)出(chu)為輸(shu)出(chu)電壓的拐(guai)點狀態，此時模(mo)塊的占空比(bi)為大，連續(xu)運(yun)行(xing)2小時，模(mo)塊不應出(chu)現損壞;
c、將模塊(kuai)(kuai)的輸入(ru)電壓調整為效率低點(dian)時的輸入(ru)電壓，模塊(kuai)(kuai)輸出為輸出電壓的拐(guai)點(dian)狀態，連(lian)續運行2小時，模塊(kuai)(kuai)不應損壞(huai);
d、將模塊(kuai)(kuai)的(de)(de)輸入電壓調整為過壓點-3v，模塊(kuai)(kuai)的(de)(de)輸出為輸出電壓的(de)(de)拐點狀態，此時(shi)模塊(kuai)(kuai)的(de)(de)占空比為大，連續運行2小時(shi)，模塊(kuai)(kuai)不應(ying)出現(xian)損壞;
e、將模塊(kuai)(kuai)的(de)(de)(de)輸(shu)入電(dian)壓調整(zheng)為(wei)效率低點(dian)時(shi)的(de)(de)(de)輸(shu)入電(dian)壓，模塊(kuai)(kuai)輸(shu)出(chu)為(wei)輸(shu)出(chu)電(dian)壓的(de)(de)(de)拐點(dian)狀態(tai)，連續(xu)運行2小(xiao)時(shi)，模塊(kuai)(kuai)不應損壞。
注(zhu)意(yi)：上述的測試，必須在規格書規定的工作溫度下(xia)進行。
判定：
在(zai)上(shang)述條件(jian)下工作，模塊沒(mei)有(you)出現損壞，合(he)格;否則不合(he)格。
7、電源特殊波(bo)形試驗
測試說明：
檢驗電源模塊在電網波形畸(ji)變可能(neng)形成的(de)尖鋒、毛刺和諧波情形下穩定運行能(neng)力(li)。以下幾種波形必須輸入進行試驗：
(1)毛刺(ci)輸入測試波形(xing)
電(dian)網的(de)毛(mao)(mao)(mao)刺(ci)是電(dian)網中(zhong)(zhong)常見(jian)(jian)的(de)波形，毛(mao)(mao)(mao)刺(ci)的(de)大小和(he)幅值并沒(mei)有(you)限(xian)值，般情況下，通過(guo)(guo)(guo)振蕩波輸(shu)入(ru)測試和(he)振鈴輸(shu)入(ru)波形，基本上可(ke)以(yi)模擬電(dian)網中(zhong)(zhong)的(de)毛(mao)(mao)(mao)刺(ci)輸(shu)入(ru)，但還需(xu)做(zuo)以(yi)下毛(mao)(mao)(mao)刺(ci)輸(shu)入(ru)試驗特點：電(dian)網尖(jian)鋒有(you)過(guo)(guo)(guo)沖(chong)并會(hui)跌(die)落(luo)到0v，過(guo)(guo)(guo)沖(chong)和(he)跌(die)落(luo)脈寬(kuan)很窄，般不會(hui)大于100ms，過(guo)(guo)(guo)沖(chong)幅度般不過(guo)(guo)(guo)100v。跌(die)落(luo)的(de)相位并不只限(xian)于峰值點，在(zai)相位都(dou)有(you)可(ke)能發生。這(zhe)種波形在(zai)實際電(dian)網中(zhong)(zhong)很常見(jian)(jian)，開通開關都(dou)會(hui)造成該(gai)現象。
(2)電壓削(xue)波波形(xing)輸入
這種波(bo)形(xing)(xing)(xing)也是(shi)(shi)電(dian)網(wang)中很(hen)常見的(de)，特點是(shi)(shi)：電(dian)網(wang)從不定的(de)相位突然(ran)跌(die)落(luo)(luo)到0v，然(ran)后(hou)直到下個(ge)半波(bo)開始才恢復。在iec1004-4-11中對于(yu)波(bo)形(xing)(xing)(xing)的(de)跌(die)落(luo)(luo)是(shi)(shi)從大于(yu)半個(ge)周(zhou)期開始的(de)，但實際(ji)電(dian)網(wang)中還是(shi)(shi)存在很(hen)多類似(si)的(de)跌(die)落(luo)(luo)時間小(xiao)于(yu)半個(ge)周(zhou)期的(de)波(bo)形(xing)(xing)(xing)。測試時要求，輸(shu)入電(dian)壓波(bo)形(xing)(xing)(xing)從90度開始跌(die)落(luo)(luo)，跌(die)落(luo)(luo)1/4個(ge)周(zhou)期，長(chang)時間工作2小(xiao)時。
(3)電(dian)網的半個(ge)波(bo)頭陡升(sheng)至倍電(dian)壓(ya)(ya)，這(zhe)(zhe)個(ge)波(bo)形主要是用來(lai)模擬(ni)實(shi)際電(dian)網中會突然(ran)(ran)出現的諧振過電(dian)壓(ya)(ya)，而且在(zai)(zai)這(zhe)(zhe)種情況下(xia)(xia)，模塊的輸(shu)入過電(dian)壓(ya)(ya)保護線路(lu)不(bu)起作用，這(zhe)(zhe)種沖擊對于有pfc的電(dian)路(lu)是存(cun)在(zai)(zai)危險的。測試內(nei)容：a、在(zai)(zai)輸(shu)入電(dian)壓(ya)(ya)為(wei)(wei)180v，輸(shu)出滿(man)載的情況下(xia)(xia)，用ac source模擬(ni)該(gai)波(bo)形，要求(qiu)180v工(gong)作3分鐘(zhong)，然(ran)(ran)后電(dian)壓(ya)(ya)突然(ran)(ran)增加(jia)到380v，持續100ms，然(ran)(ran)后恢(hui)復到180v，讓模塊在(zai)(zai)這(zhe)(zhe)種情況下(xia)(xia)長時(shi)間工(gong)作1小時(shi)，不(bu)應損壞;b、設置(zhi)ac source使得輸(shu)入電(dian)壓(ya)(ya)為(wei)(wei)0v，持續5分鐘(zhong)，然(ran)(ran)后電(dian)壓(ya)(ya)突然(ran)(ran)增加(jia)到380v，持續100ms，然(ran)(ran)后恢(hui)復到0v，讓模塊在(zai)(zai)這(zhe)(zhe)種情況下(xia)(xia)長時(shi)間工(gong)作1小時(shi)，不(bu)應損壞。
測試方法：
利用(yong)ac source對模塊(kuai)供電(dian)，模塊(kuai)滿載輸(shu)出;用(yong)ac source模擬尖鋒、毛刺和諧波電(dian)壓輸(shu)入，每(mei)種特殊(shu)的電(dian)壓輸(shu)入工作2小時，測量輸(shu)入電(dian)流和輸(shu)出電(dian)壓。模塊(kuai)應(ying)能穩定運行，試驗(yan)中注意x電(dian)容，輔助電(dian)源，軟(ruan)啟動(dong)電(dian)阻等(deng)其他可能出現問題(ti)的地方(fang)。
判定方法：
在實際中(zhong)可能出現尖(jian)鋒、毛(mao)刺、諧波電(dian)壓情(qing)形下能穩定(ding)運行，不損(sun)壞，合格;否則(ze)不合格。
8、有源pfc能測(ce)試
測試說明：
帶有源pfc的(de)電源模塊，對(dui)電網尖鋒、毛刺合和諧波比較敏感，應進行仔細的(de)測試。
測試方法：
利用ac source交流源(yuan)作(zuo)為(wei)輸(shu)(shu)(shu)入(ru)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)源(yuan)，輸(shu)(shu)(shu)出分別(bie)帶半載(zai)、滿載(zai)，測(ce)(ce)試(shi)輸(shu)(shu)(shu)入(ru)電(dian)(dian)(dian)流波形和(he)(he)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)波形，同時(shi)監測(ce)(ce)pfc后的電(dian)(dian)(dian)壓(ya);測(ce)(ce)試(shi)電(dian)(dian)(dian)網在(zai)尖(jian)鋒(feng)(feng)、毛刺(ci)、諧(xie)波情(qing)況(kuang)下(xia)輸(shu)(shu)(shu)入(ru)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)、電(dian)(dian)(dian)流的相位及幅值關系(xi);測(ce)(ce)量pfc開(kai)關管的電(dian)(dian)(dian)流和(he)(he)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)，驗證在(zai)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)范圍(wei)和(he)(he)毛刺(ci)、尖(jian)鋒(feng)(feng)、諧(xie)波等情(qing)況(kuang)下(xia)開(kai)關管和(he)(he)其他功率器(qi)件的及電(dian)(dian)(dian)流跟蹤電(dian)(dian)(dian)壓(ya)變(bian)化的能力。
判定：
pfc測試(shi)可以(yi)作為(wei)參考(kao)，出現嚴重問題(ti)時(shi)，應及時(shi)解決。
9、操作電壓測試
測試說明：
電(dian)網(wang)中(zhong)存在多種(zhong)操(cao)作(zuo)過電(dian)壓，其中(zhong)很常見的時空載線路合閘過電(dian)壓，這(zhe)種(zhong)過電(dian)壓對模塊的威脅也較(jiao)大，本項測試(shi)在于(yu)驗(yan)證模塊抗操(cao)作(zuo)過電(dian)壓的能力。
測試方法：
過電壓(ya)線路的模擬(ni)十分(fen)簡單，原理如下：
其(qi)中(zhong)電(dian)感的(de)參(can)數(shu)為(wei)10mh(供(gong)參(can)考：ees的(de)模塊(kuai)測(ce)(ce)試方法(fa)中(zhong)，沒有接地電(dian)容，輸入電(dian)阻(zu)與電(dian)感串聯，電(dian)阻(zu)值(zhi)為(wei)0歐(ou)、電(dian)感為(wei)8mh和(he)電(dian)阻(zu)為(wei)79歐(ou)、電(dian)感為(wei)10mh兩(liang)種情況的(de)測(ce)(ce)試)，電(dian)容為(wei)16.7uf，測(ce)(ce)試波(bo)形如(ru)下(未畫出)。
將被測(ce)試(shi)的(de)設(she)備(bei)連接(jie)在(zai)電容(rong)(rong)兩端(duan)，在(zai)k合(he)閘瞬間(jian)，在(zai)電容(rong)(rong)兩端(duan)會產生過(guo)電壓(ya)，用來模擬在(zai)上電過(guo)程(cheng)中(zhong)，過(guo)電壓(ya)對設(she)備(bei)的(de)損害程(cheng)度。作(zuo)為限測(ce)試(shi)項目，輸入接(jie)l、n線，將被測(ce)試(shi)的(de)設(she)備(bei)接(jie)在(zai)電容(rong)(rong)兩端(duan)，頻繁開關機，重復頻率(lv)為1次(ci)(ci)/5分(fen)鐘(zhong)，連續測(ce)試(shi)5小(xiao)時(shi)。對于三相輸入設(she)備(bei)，輸入接(jie)在(zai)l、l線上，被測(ce)試(shi)設(she)備(bei)接(jie)在(zai)電容(rong)(rong)兩端(duan)，重復頻率(lv)為1次(ci)(ci)/5分(fen)鐘(zhong)，連續測(ce)試(shi)2小(xiao)時(shi)。
判定：
在(zai)測(ce)試過程中(zhong)出現短時功能(neng)下降或能(neng)劣化，但(dan)能(neng)自動恢復的，合格;但(dan)出現能(neng)長期劣化或需要人工干預才能(neng)恢復的，不合格。以上(shang)就是開關電源的測(ce)試方法解(jie)析，希望能(neng)給大家幫助(zhu)。
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